李宇柱国内外碳化硅电力电子器件技术进展

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Transcript 李宇柱国内外碳化硅电力电子器件技术进展

国内外碳化硅电力电子进展
IC-CHINA 2010
CETC第五十五研究所 李宇柱
2010年10月23日
中国电子科技集团公司55所
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内容提要
一、碳化硅的市场
二、国外技术进展
三、我国发展状况
四、发展建议
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碳化硅相比于硅的优势
与硅相比,碳化硅(4H-SiC)具有:
10倍以上的临界电场强度
3倍禁带宽度
3倍的热导率
 工作于更高的温度和辐射环境
更高的系统效率(损耗降低1/2)
芯片面积1/5
工作频率高, 10kV器件@20kHz
单个器件更高的电压(20kV以上)
可减小体积和重量:减少或免除水冷,免除笨重的50Hz
变压器。
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600V-1200V 的碳化硅器件
节能,高频的SiC二极管,目前用
于高效电源(包括LED TV的电
源)、太阳能逆变器。
等开关器件量产之后,将引领另
一波增长,比如混合电动汽车可
可以取消一路制冷,省油10%。
比如5kW的 inverter,比硅系统
小7倍,轻8倍,节能20%(同时
满足),非常适合在空间飞行器、
飞机上的应用。
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1700V-6500V的碳化硅器件
比如风力发电、电力机车。 2020年欧洲风能增加6倍,每个5兆
瓦的风力发电机需要160兆瓦的电力电子器件,市场巨大。在这
种更高电压,更大功率的应用中,碳化硅器件节能,高频优势
更加明显。Cree已经推出1700V,25A二极管产品。 。
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高于10kV的碳化硅器件
1.
10kV的存取电系统:未来电网有更多的分布式新能源(太阳能,
风能。。。),需要储存电能。降压,储存,升压这一个来回,
SiC可以节能10%,并且去除笨重的60hz变压器。
2.
HVDC:中国西电东输。挪威的海上石油平台,欧洲海上风电场
需要长距离高压输电。需要20kV或更高电压的碳化硅器件。
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低电压市场爆发增长,高压器件将陆续出货
1.第一波市场是肖特基二极管:2008销售额达2300万美元,2010年
已达1亿美元。(2010财政年度,2010年7月为止)。去年Cree 二极
管销售增长120%。2005年以来平均68%的年增长率。
2.器件价格不断下降。从2007年到2010年, Cree的碳化硅二极管价
格降了3倍。这是通过三方面的措施实现的:增大晶圆、提高材料
质量和工艺水平、扩大规模。Cree于07年,英飞凌于08年转为4寸
生产线。为了进一步降低器件成本,Cree在2010年欧洲碳化硅会议
上发布6英寸衬底, 一年后量产。同样的外延炉,6寸比4寸增加50%
的有效面积。
3. 英飞凌在2010年欧洲碳化硅会议上宣布,2011年量产碳化硅开关
器件(JFET)。这将引领更大的市场增长。
4.Cree已经推出1700V 二极管。市场拓展到马达驱动领域。
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材料的来源和质量
1.
2009年的统计,英飞凌和Cree每月各需要1500片4寸片。 Cree的4寸
导电衬底基本被Cree和英飞凌瓜分,少量被意法半导体等拿到。
2.
大市场和垄断、高利润不可能并存,市场有巨大的扩产、降价和增大
晶圆的压力。今年更多的供应商开始提供4英寸高质量衬底。比如IIVI半年内产能扩大到3倍,5年内衬底产量增到9倍(绝大部分来自电
力电子衬底)。 II-VI公司准备明年发布6英寸。Dow Corning 大踏步
进入衬底和外延市场。预计5年后,健全的6英寸产业链将打开白色家
电的市场。
3. 材料的质量:
材料供应商面临很大的压力提供零微管衬底。这是大电流器件必需的
条件。 现在不仅Cree,II-VI,DowCorning已经具有零微管技术。
现在研究的热点是降低外延的缺陷:目前最好的外延缺陷水平0.7/cm2,
已经大于衬底的缺陷密度,成为瓶颈。预计外延很快有大幅度的改良。
东京电子2010年欧洲碳化硅会议上发布了碳化硅外延设备:6x6英寸。
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节能减排的大背景
2005年全世界碳排放28万亿吨,如果不采取措施
,2050年会达到65万亿吨。采取积极措施之后,
可以降到14 万亿吨,最重要的措施是:
1.新能源:可以降低21%的碳排放。
2.节省用电:高效用电技术可以减少24%的碳排
放。
碳化硅电力电子在以上两方面都有重要应用。
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节能方面比LED更有潜力
因为照明(包括LED),只占20%的电能应用。80%的电能用
于马达、电源。尽管Cree目前85%的利润来自LED。Cree公司
宣称绝不放弃电力电子市场。
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国外碳化硅器件研究状况
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目前重点开发的器件类型:
SiC电力电子器件
开关
整流器
双极型二极管
PIN
肖特基二极管
(SBD、JBS)
单极晶体管
MOSFET
JFET
双极晶体管
BJT,
GTO
IGBT
国外:多种器件系统研发,其中低功率SBD已经产品化。
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碳化硅器件开发机构列举
美国
Cree: MOSFET、BJT、JBS、GTO
GE: VDMOS, 模拟集成电路
Semisouth:JFET、JBS
日本
Rohm:MOSFET
Mitsubishi:MOSFET
AIST:MOSFET
Hitachi: JFET
DENSO:JBS
KEPCO:模块
欧洲
Infineon :JBS, JFET
Bosch:模拟集成电路
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碳化硅单极器件
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碳化硅肖特基二极管产业发展
•美国Cree和德国英飞凌等多家公司能够提供碳化硅 SBD的系列
产品,其中反向耐压有600V,1200V,1700V多个系列,正向电
流最高达50A。
•目前国外已经淘汰了2英寸碳化硅晶圆,目前主流是3英寸。英
飞凌、Cree已经开始采用4英寸生产线。
•英飞凌2005年开始推出第二代碳化硅SBD:JBS二极管。
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碳化硅MOSFET:研发阶段
日本Rohm公司在3英寸晶圆上制作的1200V/20A
MOSFET, 碳化硅MOSFET和SBD组成的IPM模块。
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碳化硅高压肖特基二极管
Cree 10kV 20A SiC 模块
Cree在3英寸晶圆上制作的10kV/20A 肖特基 二极管。芯片
面积达到 15mm x 11mm。
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碳化硅高压MOSFET
Cree在3英寸晶圆上制作的10kV/20A
MOSFET。芯片面积超过 8mm x 8mm。
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碳化硅双极器件
双极型碳化硅器件是高功率器件的未来,碳化硅可以实现20kV以上
的二极管、晶闸管、IGBT。目前已经有零微管4英寸单晶技术和超
过200um的厚外延技术。瓶颈是外延质量。
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碳化硅PIN二极管
Cree在2英寸晶圆上制作的20kV/10A PIN 二极管
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碳化硅IGBT
Cree公司报告了一个碳化硅n沟道IGBT,其特征电阻22mΩcm2,反
向抵抗13kV。其特征电阻比13kV碳化硅单极器件低了大概10倍!展
示了碳化硅材料提供高功率的潜力。但是碳化硅IGBT的技术难度很
大。
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碳化硅GTO
2009年Cree公司报告了一个大面积碳化硅GTO, N型衬
底。
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碳化硅GTO
Cree公司的9kV GTO,单芯片电流400A
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碳化硅GTO
20kV器件。提高少子寿命和减少BPD缺陷至关重要,是目前
外延技术研究的热点。
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碳化硅高温集成电路
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碳化硅集成电路研究取得进展

GE:NMOS OPAMP,室温增益=60dB,300 ℃增益
=57.9dB 。地热发电,发动机燃烧控制。。。

Bosch:NMOS, 汽车尾气探测,400 ℃。

NASA:JFET集成电路,500 ℃,4k小时可靠性测试。现
在正在空间站运行。

Raytheon:CMOS
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国外发展总结
 10kV以下的器件会陆续上市场。>20kV的器件方
面,外延材料是研究热点。
 集成电路开始成为研究热点。
 耐高温和高压器件的封装测试问题开始受到重视
。
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55所的碳化硅工作
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外延
生长的10微米外延薄膜表面原子力图像.
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器件
1 device
40
25C
(8.75mm2)
A
30
2
2.6mcm
20
10
0
0.0
0.4
0.8
1.2
1.6
2.0
V
100
600V-30A
A
80
60
40
20
0
0
200
400
600
800
V
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应用:续流二极管对IGBT模块的影响

因为电力电子器件工作时自发热较多,额定工作结温一般在125℃。
所以室温测试对于电力电子器件来说意义不大,所有测试都是在结
温125℃下进行。

和硅二极管对比。硅二极管是国际整流器公司的600V-30A超快二极
管:IRGP30B60KD。碳化硅二极管是我们的600V-30A SiC JBS。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——IGBT开通
测试条件:
VCC=400V;IC=35A;Rg=27Ω;Tj=125℃.CH1:IC=15A/div;CH2:VCC=100V/div;timebase=200ns/div
IGBT的开通特性:左图硅二极管,右图碳化硅二极管。
减少了IGBT电流尖峰,减少了EMC。
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续流二极管对IGBT模块的影响
参数
单位
Si-diode
条件
VCC=400V;IC=35A;VGE=15V;Rg=27Ω,感性负载
Tj=125℃
——IGBT开通
SiC SBD
ns
70
70
tr
ns
50
50
E(on)
mJ
1.0
0.7
Ipeak
A
84
60
td(on)
IGBT 开通特性比较
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续流二极管对IGBT模块的影响
——IGBT开通
在不同电流下,和两种二极管配对的IGBT开通能耗比较。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——IGBT关断
测试条件:
VCC=400V;IC=35A;Rg=27Ω;Tj=125℃。 CH1:IC=10A/div;CH2:VCC=100V/div;timebase=200ns/div
IGBT的关断特性:左图硅二极管,右图碳化硅二极管。
基本没有差别。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——二极管反向恢复
测试条件:
VCC=400V;IF=-35A;Rg=27Ω;Tj=125℃ CH1:IC=15A/div;CH2:VCC=200V/div;timebase=100ns/div
二极管的反向恢复特性:左图硅二极管,右图碳化硅二极管。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——二极管反向恢复
参数
条件
单位
Si-diode SiC-JBS
减小比
例
VCC=400V;IF=35A; Rg=27Ω,感性负载
Tj=125℃
Irr
A
40
14
65%
trr
ns
126
62
51%
Qrr
uC
3.3
0.3
90%
Erec
mJ
0.7
0.07
90%
35A下,二极管反向恢复特性比较。另外,碳化硅二极管的软度
比硅二极管高,所以电压尖峰从560V下降到440V,过电压从160V
(40%过电压)下降为40V(10%过电压),提高了模块的可靠性。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——二极管反向恢复
在不同电流下,两种二极管反向恢复能耗比较。
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续流二极管对IGBT模块的影响
——模块动态总能耗
35A电流下,两种600V IGBT模块动态能耗比较。
和国外产品报道相当(参见Cree公司产品介绍)。
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需要解决的问题
两种600V 二极管正向特性比较。SiC芯片面积 受到目前工艺所限,
因此SiC二极管正向压降较大。
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国内的碳化硅现状
国内对碳化硅很熟悉:各个大学普遍都有
国外公司送的碳化硅器件样品。国内有电
源厂家用碳化硅肖特基二极管。
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碳化硅产业链健全,核心技术落后
国内产业链比较健全,基础技术(单晶,外延和
器件)离国外有很大距离。
单晶:天科合达,46所,神舟,硅酸盐所
外延:中科院,西电,13所,55所
器件:西电,13所,55所,南车
封装: 13所,55所,南车
电路应用:清华,浙大,南航,海军工程大学
用户:国网,南车
(笔者信息有限,如有遗漏,特此致歉)
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未受到重视
研究处于小规模和分散状态。至今还没有上马针
对碳化硅电力电子的国家科研项目。
今年海军工程大学和国家电网先后组织过碳化硅
研讨会,碳化硅逐渐扩大影响。
根据国外的发展速度来看,我们现在如不下决心
投入,会失去机会。
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国内发展建议:
(1)尽快提高二极管器件的性能,形成小批量生产和送
样能力。(2)尽快实现开关器件和高压器件的突破。
要赶在国外6英寸大规模生产之前(2~3年)完成技术
积累。
国外是通过国家项目支持,然后快速产业化。
我们需要国家投入,需要产学研的合作,需要
材料、器件和封装产业链的合作。
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李宇柱,男(汉族),1975年生,
1999年9月毕 业于北京清华大学电子系
微电子专业,获学士学位。
2008年1月毕业于美国Rutgers大学电
子系微电子专业,获博士学位,读博
士期间研究内容为碳化硅电力电子器
件工艺开发。2008年起在南京电子器
件研究所单片集成电路和模块重点实
验室工作,主要从事碳化硅电力电子
器件设计和工艺技术的研究。
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